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傅立葉轉換紅外線光譜分析儀(Tracer-100)
•研究分子結構及鑑定化合物與官能基
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第二代D2 PHASER XE-T 粉末X 光繞射儀 / XRD G2【貴儀中心】
•粉末、塊材、薄膜之一般繞射分析。
(備註:以上分析僅提供圖譜數據，不提供組成鑑定服務) |
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第一代D2 PHASER 粉末X 光繞射儀 / XRD D2【貴儀中心】
•粉末、塊材、薄膜之一般繞射分析
(備註:以上分析僅提供圖譜數據，不提供組成鑑定服務) |
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進階式熱重分析儀
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雷射奈米粒徑電位分析儀
•確認材料中顆粒的大小範圍和分佈狀態
•量測材料表面電位 |
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紫外光-可見光/近紅外光 分析儀
•樣品定性分析
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熱重、熱示差同步熱分析儀
•量測材料在特定溫度條件下同時針對材料重量變化和吸放熱變化
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顯微拉曼光譜儀
•探討晶格及分子的振動模式、旋轉模式和在一系統裡的其他低頻模式的一種分光技術
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螢光光譜儀
•評估光生載子複合行為
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FTIR-傅立葉紅外線光譜儀
•鑑定或辨別有機材料的特性
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高效能高分子核心系統
•讓高分子和低聚物在層析表徵分析中的大小分離實現最高解析度
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電致發光測量機台(EL Spectrometer)
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微區螢光光譜儀(PL Spectrometer)
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表面張力分析儀(Surface Tension Analyzer)
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拉曼光譜儀(Raman Spectroscope)
•固態樣品(含薄膜、粉末)與液態樣品之分析
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萬能材料試驗機(Material Test Machine)
•由材料試驗機之測試了解材料機械性質
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7900F場發射電子顯微鏡
•二次電子成像
•背向散射電子成像 |
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6500F場發射電子顯微鏡
•二次電子成像
•背向散射電子成像 |
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高解析度共軛焦顯微拉曼光譜儀(材料系)
•高解析拉曼/螢光 (Raman/PL) 光譜分析
•可針對不同樣品提供高解析2D/3D拉曼/螢光 (Raman/PL) 圖像掃描分析 |
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第二代D2 PHASER XE-T 粉末X 光繞射儀
•粉末、塊材、薄膜之一般繞射分析。
(備註:以上分析僅提供圖譜數據，不提供組成鑑定服務) |
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